XRF, análisis de fluorescencia de rayos X de chamota
Composición
Productos refractarios compuestos por los principales componentes Al2O3 y SiO2.
Materias primas
arcilla, caolín (o sus productos sinterizados), alumosilicatos como andalusita, sillimanita, mullita, así como bauxita sinterizada y corindón.
Uso
de ladrillos refractarios: construcción de combustión, altos hornos, fundiciones siderúrgicas, hornos de coque y gas, industria del vidrio y el cemento.
Normas y directrices para el análisis de fluorescencia de rayos X de chamota
- DIN EN ISO 12677:2013-02 – Análisis químico de productos refractarios mediante análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Proceso de fusión
- DIN EN ISO 26845:2008-06 – Análisis químico de productos refractarios - Requisitos generales de el análisis químico húmedo, el método de espectrometría de absorción atómica (AAS), la espectrometría de emisión atómica con excitación por plasma acoplado inductivamente (ICP-AES)
- DIN 51001:2003-08 – Pruebas de materias primas y materiales oxidados - Principios generales de trabajo para el análisis de fluorescencia de rayos X (XRF)
- DIN 51001 Suplemento 1:2010-05 – Ensayos de materias primas y materias primas oxidadas - Principios generales de trabajo para el análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Descripción general de los métodos de digestión basados en grupos de materiales para la producción de muestras para la XRF
- DIN 51081:2002-12 – Ensayos de materias primas y materiales oxidados - Determinación del cambio de masa en el recocido
- DIN 51418-1:2008-08 – Análisis espectral de rayos X - Análisis de emisión de rayos X y fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 1: Términos y principios generales
- DIN 51418- 2:2015-03 – Análisis espectral de rayos X - Análisis de emisión de rayos X y fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Términos y principios para la medición, calibración y evaluación
Tipos de examen para el análisis de la chamota
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Análisis cuantitativo de fluorescencia de rayos X a partir de una digestión de fusión
Programa estándar sobre óxidos de 12 elementos, aplicable a todos los grupos de sustancias excepto materiales con alto contenido de ZR
Al cruzar los elementos marcados en verde, su
- rango de calibración (rango) y
- el límite práctico de detección (NWG)
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Por favor, tenga en cuenta:
Para realizar un análisis estandarizado, necesitamos material de muestra analítico fino (< 63 µm) y seco (105 °C), así como el valor de la pérdida de brillo (LOI).
La determinación de la molienda, el secado y la pérdida de brillo se llevan a cabo, si es necesario o no especificado, en las condiciones
especificadas en la lista de precios
►XRF.
Programa estándar sobre 16 óxidos de elementos para materiales que contienen ZR a partir del 4% ZrO2
Al cruzar los elementos marcados en verde, su
- rango de calibración (rango) y
- el límite práctico de detección (NWG)
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Por favor, tenga en cuenta:
Para realizar un análisis estandarizado, necesitamos material de muestra analítico fino (< 63 µm) y seco (105 °C), así como el valor de la pérdida de brillo (LOI).
La molienda, el secado y la determinación de la pérdida de brillo se llevan a cabo, si es necesario o no especificado, en las condiciones especificadas en la lista de precios
►XRF.
Programa estándar sobre 20 óxidos de elementos, aplicable a todos los grupos de sustancias excepto materiales con alto contenido de ZR
Al cruzar los elementos marcados en verde, su
- rango de calibración (rango) y
- el límite de detección práctica (NWG)
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Por favor, tenga en cuenta:
Para realizar un análisis estandarizado, necesitamos material de muestra analítico fino (< 63 µm) y seco (105 °C), así como el valor de la pérdida de brillo (LOI).
La molienda, el secado y la determinación de la pérdida de brillo se llevan a cabo, si es necesario o no especificado, en las condiciones especificadas en la lista de precios
► XRF.
Programa estándar sobre 30 óxidos/elementos, aplicable a todos los grupos de sustancias excepto los materiales que contienen alto Zr, Cr, Mn.
Al cruzar los elementos marcados en verde, su rango de
- calibración (rango) y
- el límite práctico de detección (NWG)
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Por favor, tenga en cuenta:
Para realizar un análisis estandarizado, necesitamos material de muestra analítico fino (< 63 µm) y seco (105 °C), así como el valor de la pérdida de brillo (LOI).
La molienda, el secado y la determinación de la pérdida de brillo se llevan a cabo, si es necesario o no especificado, en las condiciones especificadas en la lista de precios
►XRF.
Programa estándar sobre 40 óxidos/elementos, aplicable a todos los grupos de sustancias excepto los materiales que contienen alto Zr, Cr, Mn.
Al cruzar los elementos marcados en verde, su rango de
- calibración (rango) y
- el límite práctico de detección(NWG)
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Por favor, tenga en cuenta:
Para realizar un análisis estandarizado , necesitamos material de muestra analítico fino (< 63 µm) y seco (105 °C), así como el valor de la pérdida de brillo (LOI).
La molienda, el secado y la determinación de la pérdida de brillo se llevan a cabo, si es necesario o no especificado, en las condiciones especificadas en la lista de precios
►XRF.
XRF cuantitativa de un comprimido bucodispersable en 12, 16, 20, 30 o 40 elementos según DIN EN ISO 12677 (2012), DIN EN 15309 (2007), DIN EN 19
Para el análisis de muestras oxídicas y oxidables de diferentes composiciones como fibras de vidrio y de vidrio, suelos, rocas, materias primas minerales, materiales de construcción cerámicos o ligados a minerales y muchos más.
En este proceso, el material de muestra se coloca con un flujo (tetraborato de litio), se funde en una atmósfera oxidante, se apaga como una tableta de vidrio homogénea y se analiza como tal con gran precisión.
Análisis de cribado sobre 71 elementos
Análisis de cribado en 71 óxidos/elementos. Sensibilidad 250 µg/g
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Por favor, tenga en cuenta:
Para realizar un análisis estandarizado, necesitamos material de muestra analítico fino (< 63 µm) y seco (105 °C), así como el valor de la pérdida de brillo (LOI).
La molienda, el secado y la determinación de la pérdida de brillo se llevan a cabo, si es necesario o no especificado, en las condiciones especificadas en la lista de precios
►XRF.
El Programa de Parámetro Fundamental Omnian se utiliza para XRF cuantitativa, semicuantitativa o cualitativa de muestras desconocidas de diferentes propiedades materiales y composiciones (inorgánicas y orgánicas). El material de muestra se puede preparar en forma preparada o con la composición adecuada (rayos X y estable al vacío!) y la textura superficial pueden analizarse sin preparación y no destructiva, por lo que pueden determinarse las concentraciones de los elementos entre el límite de detección, normalmente 250 µg/g y el 100%.
