XRF, análisis de fluorescencia de rayos X de SiC, carburo de silicio
Composición
Contenido de SiC hasta 99%
Materias primas
Fabricación sintética a partir de SiO2 y C a 2300 °C.
Uso
Para la entrega de hornos e instalaciones en el campo de la metalurgia siderúrgica no ferrosa, residuos instalaciones de incineración, como combustible auxiliar para la cerámica técnica.
Normas y directrices para el análisis de fluorescencia de rayos X de materiales que contienen SiC, carburo de silicio y SiC
- DIN EN ISO 12677:2013-02 – Análisis químico de productos refractarios mediante análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Proceso de fusión DIN
- EN ISO 21068-1:2008-12 – Análisis químico de Materias primas y productos refractarios que contengan carburo de silicio - Parte 1: Especificaciones generales y preparación de muestras
- DIN EN ISO 21068- 2:2008-12 – Análisis químico de materias primas y productos refractarios que contengan carburo de silicio - Parte 2: Determinación de la pérdida de brillo y contenido del total carbono, carbono libre y carburo de silicio, contenido total y libre de óxido de silicio
- DIN EN ISO 26845:2008-06 – Análisis químico productos refractarios - Requisitos generales para el análisis químico húmedo, métodos de espectrometría de absorción atómica (AAS), espectrometría de emisiones atómicas excitado por un acoplamiento inductivo plasma (ICP-AES)
- DIN 51001:2003-08 – Pruebas de materias primas y materias primas oxidadas - Principios generales de trabajo para el análisis de fluorescencia de rayos X (XRF)
- DIN 51001 Supplement 1:2010-05 – Pruebas de materias primas y materiales oxidados - Principios generales de trabajo para el análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) ) - Resumen Proceso de digestión relacionado con el grupo de sustancias para la producción de muestras para la XRF
- DIN 51081:2002-12 – Ensayos de materias primas y materias primas oxidadas - Determinación del cambio de masa en el recocido
- DIN 51418-1:2008-08 – Análisis espectral de rayos X - Emisión de rayos X y fluorescencia de rayos X análisis (XRF) - Parte 1: Términos generales y Fundamentos
- DIN 51418-2:2015-03 – Análisis espectral de rayos X - Análisis de emisiones de rayos X y fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Términos y fundamentos para la medición, calibración y evaluación
Tipos de examen para el análisis de carburo de silicio, carburo de silicio y materiales que contienen carburo de silicio
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Análisis cuantitativo de fluorescencia de rayos X a partir de una digestión de fusión
Programa estándar sobre 12 óxidos de elementos, aplicable a todos los grupos de materiales excepto a los materiales con alto contenido de Zr.
Al pasar por encima de los elementos marcados en verde, su
- rango de calibración (rango) y
- el límite de detección práctica (NWG)
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Por favor, tenga en cuenta:
Para realizar un análisis conforme a la norma, se requiere un análisis de material de muestra fino (< 63 µm) y seco (105 °C), así como el valor de la pérdida por ignición (LOI).
La determinación de las pérdidas por molienda, secado y recocido, si es necesario o no se especifica, se llevará a cabo en las proporciones especificadas en el
► XRF
condiciones mencionadas anteriormente.
Programa estándar sobre 20 óxidos de elementos, aplicable a todos los grupos de materiales excepto a los materiales con alto contenido de Zr.
Al pasar por encima de los elementos marcados en verde, su
- rango de calibración (rango) y
- el límite de detección práctica (NWG)
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Por favor, tenga en cuenta:
Para realizar un análisis conforme a la norma, se requiere un análisis de material de muestra fino (< 63 µm) y seco (105 °C), así como el valor de la pérdida por ignición (LOI).
La determinación de las pérdidas por molienda, secado y recocido, si es necesario o no se especifica, se llevará a cabo en las proporciones especificadas en el
► Lista de precios XRF
condiciones mencionadas anteriormente.
Programa estándar sobre 30 óxidos/elementos, aplicable a todos los grupos de materiales excepto los materiales con alto contenido de Zr, Cr y Mn.
Al pasar por encima de los elementos marcados en verde, su
- rango de calibración (rango) y
- el límite de detección práctica (NWG)
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Por favor, tenga en cuenta:
Para realizar un análisis conforme a la norma, se requiere un análisis de material de muestra fino (< 63 µm) y seco (105 °C), así como el valor de la pérdida por ignición (LOI).
La determinación de las pérdidas por molienda, secado y recocido, si es necesario o no se especifica, se llevará a cabo en las proporciones especificadas en el
► XRF
condiciones mencionadas anteriormente.
Programa estándar sobre 40 óxidos/elementos, aplicable a todos los grupos de materiales excepto los materiales con alto contenido de Zr, Cr y Mn.
Al pasar por encima de los elementos marcados en verde, su
- rango de calibración (rango) y
- el límite de detección práctica (NWG)
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Por favor, tenga en cuenta:
Para realizar un análisis conforme a la norma, se requiere un análisis de material de muestra fino (< 63 µm) y seco (105 °C), así como el valor de la pérdida por ignición (LOI).
La determinación de las pérdidas por molienda, secado y recocido, si es necesario o no se especifica, se llevará a cabo en las proporciones especificadas en el
► XRF
condiciones mencionadas anteriormente.
XRF cuantitativo a partir de una pastilla de sílice fundida en 12, 16, 20, 30 ó 40 elementos según DIN EN ISO 12677 (2012), DIN EN 15309 (2007), DIN EN 19.
Para el análisis de muestras oxídicas y oxidables de diferentes composiciones como fibras de vidrio y de vidrio, suelos, rocas, materias primas minerales, materiales de construcción cerámicos o ligados a minerales y muchos más.
En este método, el material de muestra se mezcla con un fundente (tetraborato de litio), se funde en una atmósfera oxidante, se apaga como una tableta de vidrio homogénea y se analiza como tal con alta precisión.
Análisis de cribado sobre 71 elementos
Análisis de cribado en 71 óxidos/elementos. Sensibilidad 250 µg/g
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Por favor, tenga en cuenta:
Para realizar un análisis estandarizado, necesitamos material de muestra analítico fino (< 63 µm) y seco (105 °C), así como el valor de la pérdida de brillo (LOI).
La molienda, el secado y la determinación de la pérdida de brillo se llevan a cabo, si es necesario o no especificado, en las condiciones especificadas en la lista de precios
►XRF.
El Programa de Parámetro Fundamental Omnian se utiliza para XRF cuantitativa, semicuantitativa o cualitativa de muestras desconocidas de diferentes propiedades materiales y composiciones (inorgánicas y orgánicas). El material de muestra se puede preparar en forma preparada o con la composición adecuada (rayos X y estable al vacío!) y la textura superficial pueden analizarse sin preparación y no destructiva, por lo que pueden determinarse las concentraciones de los elementos entre el límite de detección, normalmente 250 µg/g y el 100%.
