XRF, analisi a fluorescenza a raggi X di bauxite, pietre di bauxite
Composizione
quercia alluminaria gradi pietra con 80–85% Al2O3, 10–15% SiO2
Materie prime
Bauxite su base lateritica o carbonatica. I maggiori giacimenti in Australia, Cina, Brasile
Utilizzare
come materia prima per la produzione di alluminio. Aree di applicazione delle pietre di bauxite: pentole e coperchi per forni elettrici nell'industria siderurgica, industria del cemento, forni per scaffalature in alluminio, impianti di incenerimento dei rifiuti.
Norme e linee guida per l'analisi a fluorescenza a raggi X di bauxite, pietre di bauxite
- DIN EN ISO 12677:2013-02 – Analisi chimica dei prodotti refrattari mediante analisi a fluorescenza a raggi X (XRF) - Processo di fusione
- DIN EN ISO 26845:2008-06 – Analisi chimica dei prodotti refrattari - Generale Requisiti per l'analisi chimica a umido, metodi di spettrometria ad assorbimento atomico (AAS), spettrometria ad emissione atomica con eccitazione mediante plasma accoppiato induttivamente (ICP-AES)
- DIN 51001:2003-08 – Test di materie prime e materiali ossidici - Principi generali di funzionamento per l'analisi della fluorescenza a raggi X (XRF)
- DIN 51001 Supplemento 1:2010-05 – Prove di materie prime e materiali ossidici - Principi generali di funzionamento per l'analisi a fluorescenza a raggi X (XRF) - Panoramica dei metodi di digestione basati su gruppi di materiali per la produzione di campioni per la XRF
- DIN 51081:2002-12 – Test di materie prime ossidate e materiali - Determinazione della variazione di massa nella ricottura
- DIN 51418-1:2008-08 – Analisi spettrale dei raggi X - Emissione dei raggi X e analisi della fluorescenza a raggi X (XRF) - Parte 1: Termini e principi generali
- DIN 51418-2:2015-03 – Analisi spettrale a raggi X - Emissione a raggi X e fluorescenza a raggi X (XRF) - Parte 2: Termini e nozioni di base per la misurazione, la taratura e la valutazione
Tipi di indagini per l'analisi della bauxite
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Analisi quantitativa della fluorescenza a raggi X da una digestione di fusione
Programma standard sugli ossidi a 12 elementi, applicabile a tutti i gruppi di sostanze ad eccezione dei materiali ad alto contenuto di ZR
Quando si attraversano gli elementi contrassegnati in verde, il loro
- intervallo di taratura (intervallo) e
- il limite pratico di rivelazione (NWG)
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Avvertenza:
Per effettuare un'analisi standardizzata, abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105 °C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI).
Determinazione della rettificazione, dell'essiccazione e della perdita di bagliore vengono effettuate, se necessario o non specificate, alle condizioni specificate nel
►di listino XRF.
Programma standard su ossidi a 16 elementi per materiali contenenti ZR da 4% ZrO2
Quando si attraversano gli elementi marchiati in verde, la loro
- gamma di taratura (gamma) e
- il limite pratico di rilevamento (NWG)
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Avvertenza:
Per effettuare un'analisi standardizzata, abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105 °C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI). La rettificazione, l'essiccazione e la determinazione della perdita di bagliore vengono eseguite, se necessario o non specificate, alle condizioni specificate nel prezzo di listino
►XRF.
Programma standard sugli ossidi a 20 elementi, applicabile a tutti i gruppi di sostanze ad eccezione dei materiali ad alto contenuto di ZR
Quando si attraversano gli elementi contrassegnati in verde, il loro
- intervallo di taratura (intervallo) e
- il limite di rivelazione pratica (NWG)
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Avvertenza:
Per effettuare un'analisi standardizzata , abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105 °C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI). La rettificazione, l'essiccazione e la determinazione della perdita di bagliore vengono eseguite, se necessario o non specificate, alle condizioni specificate nel prezzo di listino
►XRF.
Programma standard su 30 ossidi/elementi, applicabile a tutti i gruppi di sostanze ad eccezione dei materiali contenenti alto Zr, Cr, Mn.
Quando si attraversano gli elementi contrassegnati in verde, la loro
- gamma di taratura (intervallo) e
- il limite di rilevamento pratico (NWG)
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Avvertenza:
Per effettuare un'analisi standardizzata , abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105 °C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI). La rettificazione, l'essiccazione e la determinazione della perdita di bagliore vengono eseguite, se necessario o non specificate, alle condizioni specificate nel prezzo di listino
►XRF.
Programma standard su 40 ossidi/elementi, applicabile a tutti i gruppi di sostanze ad eccezione dei materiali contenenti alto Zr, Cr, Mn.
Quando si attraversano gli elementi contrassegnati in verde, la loro
- gamma di taratura (intervallo) e
- il limite di rilevamento pratico (NWG)
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Avvertenza:
Per effettuare un'analisi standardizzata , abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105 °C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI). La rettificazione, l'essiccazione e la determinazione della perdita di bagliore vengono eseguite, se necessario o non specificate, alle condizioni specificate nel prezzo di listino
► XRF.
XRF quantitativo da una compressa orodispersibile su 12, 16, 20, 30 o 40 elementi secondo DIN EN ISO 12677 (2012), DIN EN 15309 (2007), DIN EN 19
Per l'analisi di campioni ossidici e ossidabili di varie composizioni come vetro e fibre di vetro, suoli, roccie, materie prime minerali, ceramica e molto altro. In questo processo, il materiale campione viene posto con un flusso (tetraborato di litio), fuso in atmosfera ossidante, spento come una tavoletta di vetro omogenea e analizzato come tale con alta precisione.
Analisi di screening su 71 elementi
Analisi di screening su 71 ossidi/elementi. Sensibilità 250 µg/g
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Avvertenza:
Per effettuare un'analisi standardizzata, abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105 °C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI).
La rettificazione, l'essiccazione e la determinazione della perdita di bagliore vengono eseguite, se necessario o non specificate, alle condizioni specificate nel prezzo di listino
►XRF.
Il Fundamental Parameter Program Omnian è utilizzato per XRF indipendente dalla matrice, quantitativa, semi-quantitativa o qualitativa di campioni sconosciuti di diverse proprietà del materiale e composizioni (inorganiche e organiche). Il materiale campione può essere preparato in forma preparata o con una composizione adeguata (radiografia e sottovuoto!) e la texture superficiale possono essere analizzate non preparate e non distruttive, per cui si possono determinare le concentrazioni di elementi tra il limite di rilevazione, solitamente 250 µg/g e 100%.
