XRF, analisi a fluorescenza a raggi X di ceramiche grezze e fini, ceramiche tecniche e loro materie prime
Prodotti ceramici non refrattari su base minerale-silicato o metallizzata
Ceramica grezza
- Ceramica per l'edilizia - mattoni, mattoni in clinker, mattoni sagomati, tegole per tetti
- Terracotta come gres porcellanato, ceramica
- Gres grezzo - clinker, piastrelle, tegole, abbeveratoi, tubi fognari
Ceramico fine
- Gres porcellanato - stoviglie, articoli sanitari, mosaici, piastrelle, vasi ornamentali, vasi ornamentali
- Porcellana dura e morbida
Ceramica tecnica
- Ceramica speciale ad alta temperatura, ceramica elettrotecnica
Ulteriori informazioni sull'analisi della fluorescenza a raggi X da:
Ceramica grezza
Fine ceramica
Suono
Caolino
Talco
Wollastonite
Feldspato
Quarzo
Pigmento coloratoNorme e linee guida per l'analisi della fluorescenza a raggi X ceramiche grezze e fini, ceramiche tecniche e loro materie prime
- DIN EN ISO 12677:2013-02 – Analisi chimica dei prodotti refrattari mediante analisi a fluorescenza a raggi X (XRF) - Processo di fusione
- DIN EN ISO 26845:2008-06 – Analisi chimica dei prodotti refrattari - Requisiti generali per l'analisi chimica a umido, metodi di spettrometria ad assorbimento atomico (AAS), spettrometria ad emissione atomica con plasma accoppiato induttivo (ICP-AES)
- DIN 51001:2003-08 – Test di materie prime ossidate -
- Fondamenti generali per l'analisi della fluorescenza a raggi X (XRF)
- DIN 51001 Supplemento 1:2010-05 – Test di materie prime ossidate - Fondamenti generali per l'analisi della fluorescenza a raggi X (XRF) - Panoramica dei metodi di divulgazione basati su gruppi di sostanze per la produzione di campioni per XRF
- DIN 51081:2002 12 – Prove di materie prime e materiali ossidici - Determinazione della variazione di massa nella ricottura
- DIN 51418-1:2008-08 – Analisi spettrale dei raggi X - Emissione dei raggi X e analisi della fluorescenza a raggi X (XRF) - Parte 1: Termini e principi generali
- DIN 51418-2:2015-03 – Analisi spettrale a raggi X - Analisi delle emissioni e della fluorescenza a raggi X (XRF) - Parte 2: Termini e nozioni di base per la misurazione, la taratura e la valutazione
Tipi di esame per l'analisi della ceramica grezza e fine, della ceramica tecnica e delle loro materie prime
- diverse dimensioni per l'analisi a fluorescenza a raggi X di ceramiche grossolane e fini provenienti da unadigestione di fusione o pressatura di polveri
- Analisi di screening su un massimo di 71 elementi
- studi supplementari
- Determinazione della densità apparente e della porosità
- Analisi del carbonio - TC, TOC, TIC
- Microanalisi a raggi X, EDX per Identificazione di inclusioni, impurezze
Vantaggi di XRF, analisi a fluorescenza a raggi X
- metodi di test accreditati secondo standard nazionali ed internazionali
- Analisi economicamente vantaggiose
- Tempi di lavorazione brevi in laboratorio
- Alta precisione delle analisi, limiti di rivelazione bassi
- fino a 71 elementi in un unico passaggio di misura
Analisi quantitativa della fluorescenza a raggi X da una digestione di fusione
Programma standard sugli ossidi a 12 elementi, applicabile a tutti i gruppi di sostanze ad eccezione dei materiali ad alto contenuto di ZR
Quando si attraversano gli elementi contrassegnati in verde, il loro
- intervallo di taratura (intervallo) e
- il limite pratico di rivelazione (NWG)
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Avvertenza:
Per effettuare un'analisi standardizzata, abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105 °C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI).
Determinazione della rettificazione, dell'essiccazione e della perdita di bagliore vengono effettuate, se necessario o non specificate, alle condizioni specificate nel
►di listino XRF.
Programma standard su ossidi a 16 elementi per materiali contenenti ZR da 4% ZrO2
Quando si attraversano gli elementi marchiati in verde, la loro
- gamma di taratura (gamma) e
- il limite pratico di rilevamento (NWG)
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Avvertenza:
Per effettuare un'analisi standardizzata, abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105 °C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI). La rettificazione, l'essiccazione e la determinazione della perdita di bagliore vengono eseguite, se necessario o non specificate, alle condizioni specificate nel prezzo di listino
►XRF.
Programma standard sugli ossidi a 20 elementi, applicabile a tutti i gruppi di sostanze ad eccezione dei materiali ad alto contenuto di ZR
Quando si attraversano gli elementi contrassegnati in verde, il loro
- intervallo di taratura (intervallo) e
- il limite di rivelazione pratica (NWG)
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Avvertenza:
Per effettuare un'analisi standardizzata , abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105 °C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI). La rettificazione, l'essiccazione e la determinazione della perdita di bagliore vengono eseguite, se necessario o non specificate, alle condizioni specificate nel prezzo di listino
►XRF.
Programma standard su 30 ossidi/elementi, applicabile a tutti i gruppi di sostanze ad eccezione dei materiali contenenti alto Zr, Cr, Mn.
Quando si attraversano gli elementi contrassegnati in verde, la loro
- gamma di taratura (intervallo) e
- il limite di rilevamento pratico (NWG)
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Avvertenza:
Per effettuare un'analisi standardizzata , abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105 °C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI). La rettificazione, l'essiccazione e la determinazione della perdita di bagliore vengono eseguite, se necessario o non specificate, alle condizioni specificate nel prezzo di listino
►XRF.
Programma standard su 40 ossidi/elementi, applicabile a tutti i gruppi di sostanze ad eccezione dei materiali contenenti alto Zr, Cr, Mn.
Quando si attraversano gli elementi contrassegnati in verde, la loro
- gamma di taratura (intervallo) e
- il limite di rilevamento pratico (NWG)
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Avvertenza:
Per effettuare un'analisi standardizzata , abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105 °C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI). La rettificazione, l'essiccazione e la determinazione della perdita di bagliore vengono eseguite, se necessario o non specificate, alle condizioni specificate nel prezzo di listino
► XRF.
XRF quantitativo da una compressa orodispersibile su 12, 16, 20, 30 o 40 elementi secondo DIN EN ISO 12677 (2012), DIN EN 15309 (2007), DIN EN 19
Per l'analisi di campioni ossidici e ossidabili di varie composizioni come vetro e fibre di vetro, suoli, roccie, materie prime minerali, ceramica e molto altro. In questo processo, il materiale campione viene posto con un flusso (tetraborato di litio), fuso in atmosfera ossidante, spento come una tavoletta di vetro omogenea e analizzato come tale con alta precisione.
Analisi quantitativa della fluorescenza a raggi X da una pressa a polvere
Programma standard su 27 ossidi/elementi, applicabile a tutti i gruppi di sostanze ad eccezione dei materiali contenenti alto Zr, Cr, Mn.
Quando si attraversano gli elementi contrassegnati in verde, la loro
- gamma di taratura (intervallo) e
- il limite di rilevamento pratico (NWG)
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Avvertenza:
Per effettuare un'analisi standardizzata, abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105 °C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI).
La rettificazione, l'essiccazione e la determinazione della perdita di bagliore vengono eseguite, se necessario o non specificate, alle condizioni specificate nel prezzo di listino
►XRF.
Programma standard su 40 ossidi/elementi, applicabile a tutti i gruppi di sostanze ad eccezione dei materiali contenenti alto Zr, Cr, Mn.
Quando si attraversano gli elementi contrassegnati in verde, la loro
- gamma di calibrazione (intervallo) e
- il limite pratico di rilevamento (NWG)
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Avvertenza:
Per effettuare un'analisi standardizzata , abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105 °C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI).
La rettificazione, l'essiccazione e la determinazione della perdita di bagliore vengono eseguite, se necessario o non specificate, alle condizioni specificate nel prezzo di listino
►XRF.
Programma standard su 50 ossidi/elementi, applicabile a tutti i gruppi di sostanze ad eccezione dei materiali contenenti alto Zr, Cr, Mn.
Quando si attraversano gli elementi contrassegnati in verde, la loro
- gamma di calibrazione (intervallo) e
- il limite pratico di rilevamento (NWG)
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Avvertenza:
Per effettuare un'analisi standardizzata, abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105 °C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI).
La rettificazione, l'essiccazione e la determinazione della perdita di bagliore vengono eseguite, se necessario o non specificate, alle condizioni specificate nel prezzo di listino
►XRF.
Specialmente per campioni di rilevanza ambientale quali suoli contaminati o incontaminati, fanghi di depurazione, residui di incenerimento dei rifiuti, ma anche gesso REA, ceneri volanti e altri materiali. A causa della natura della preparazione, gli effetti di consistenza e granulometria possono portare a una errata determinazione degli elementi principali minori con numeri ordinali fino a 15. Per la valutazione delle materie prime, almeno gli elementi da Na a Si vanno analizzati in aggiunta a una digestione del fuso.
Il programma a 27 elementi è particolarmente adatto per le questioni che richiedono elementi secondo Laga, l'elenco di Kloke, l'ordinanza sui fanghi di depurazione dei rifiuti o le direttive CE. Tuttavia, molti altri elementi sono noti dalla tossicologia ambientale, che non sono inclusi negli elenchi dei valori limite, indicativi e orientativi. In caso di sospetto di tale contaminazione o nella creazione di catasti fondiari, si raccomanda l'uso di programmi di misurazione più estesi con 40 o 50 elementi.
Per queste domande viene effettuato un trattamento delicato del materiale: il campione viene essiccato a 40 °C nella camera di essiccazione ad aria in circolazione, in modo che non si verifichino perdite di evaporazione, ad esempio da composti volatili metallici o metallo-organici di mercurio e – se non già fatto prima della consegna – in un Macinare il mulino di agata.
Analisi di screening su 71 elementi
Analisi di screening su 71 ossidi/elementi. Sensibilità 250 µg/g
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Avvertenza:
Per effettuare un'analisi standardizzata, abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105 °C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI).
La rettificazione, l'essiccazione e la determinazione della perdita di bagliore vengono eseguite, se necessario o non specificate, alle condizioni specificate nel prezzo di listino
►XRF.
Il Fundamental Parameter Program Omnian è utilizzato per XRF indipendente dalla matrice, quantitativa, semi-quantitativa o qualitativa di campioni sconosciuti di diverse proprietà del materiale e composizioni (inorganiche e organiche). Il materiale campione può essere preparato in forma preparata o con una composizione adeguata (radiografia e sottovuoto!) e la texture superficiale possono essere analizzate non preparate e non distruttive, per cui si possono determinare le concentrazioni di elementi tra il limite di rilevazione, solitamente 250 µg/g e 100%.
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