XRF, analisi fluorescenza a raggi X di spinello, pietra spinello, magnesio aspinale
Composizione
MgO xAl2O3, installazione di altri ossidi 2 e metalli 3-grado come FeO, MnO, ZnO,Fe2O3,Cr2O3
Materie Prime
Depositi di cromite in rocce ultrabasiche. Produzione di spinello da allumina e magnesia mediante fusione in un forno elettrico ad arco = spinello fuso, oppure in forni rotativi o ad asse = spinello sinterizzato.
Utilizzare
Altiforni, forni cementizi, forni a vetro, fusione di metalli non ferrosi
Norme e linee guida per l'analisi a fluorescenza a raggi X di spinello, pietra spinello, spinello di magnesio
- DIN EN ISO 12677:2013 -02 – Analisi chimica di prodotti refrattari mediante analisi a fluorescenza a raggi X (XRF) - Processo di fusione
- DIN EN ISO 26845:2008 -06 – Analisi chimica dei refrattari products - Requisiti generali per l'analisi chimica a umido, metodi di spettrometria ad assorbimento atomico (AAS), spettrometria ad emissione atomica con eccitazione mediante plasma accoppiato induttivamente (ICP-AES)
- DIN 51001:2003 -08 – Test di materie prime e materiali ossidici - Principi generali di funzionamento per raggi X Analisi di fluorescenza (XRF)
- DIN 51001 Supplemento 1:2010 -05 – Test di materie prime e materiali ossidici - Principi generali di funzionamento per l'analisi a fluorescenza a raggi X (XRF) - Panoramica dei metodi di digestione correlati al gruppo di materiali per la produzione di campioni per la XRF
- DIN 51081:2002 -12 – Prove di materie prime e materiali ossidici - Determinazione della variazione di massa nella ricottura
- DIN 51418- 1:2008 -08 – Analisi spettrale a raggi X - Emissione a raggi X e analisi della fluorescenza a raggi X (XRF) - Parte 1: Termini e principi generali
- DIN 51418- 2:2015 -03 – Analisi spettrale a raggi X - Emissione a raggi X e analisi della fluorescenza a raggi X (XRF) - Parte 2: Termini e nozioni di base per la misurazione, la taratura e la valutazione
Tipi di esame per l'analisi di spinel, spinel stone e magnesiaspinell
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Analisi quantitativa della fluorescenza a raggi X da una digestione di fusione
Programma standard sugli ossidi a 12 elementi, applicabile a tutti i gruppi di sostanze ad eccezione dei materiali ad alto contenuto di ZR
Quando si attraversano gli elementi contrassegnati in verde, il loro
- intervallo di taratura (intervallo) e
- il limite pratico di rivelazione (NWG)
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Avvertenza:
Per effettuare un'analisi standardizzata, abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105 °C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI).
La rettificazione, l'essiccazione e la determinazione della perdita di bagliore vengono eseguite, se necessario o non specificate, alle condizioni specificate nel prezzo di listino
►XRF.
Programma standard sugli ossidi a 20 elementi, applicabile a tutti i gruppi di sostanze ad eccezione dei materiali ad alto contenuto di ZR
Quando si attraversano gli elementi contrassegnati in verde, il loro
- intervallo di taratura (intervallo) e
- il limite di rivelazione pratica (NWG)
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Avvertenza:
Per effettuare un'analisi standardizzata , abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105 °C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI).
La rettificazione, l'essiccazione e la determinazione della perdita di bagliore vengono eseguite, se necessario o non specificate, alle condizioni specificate nel prezzo di listino
►XRF.
XRF quantitativo da una compressa orodispersibile su 12, 16, 20, 30 o 40 elementi secondo DIN EN ISO 12677 (2012), DIN EN 15309 (2007), DIN EN 19
Per l'analisi di campioni ossidici e ossidabili di varie composizioni come vetro e fibre di vetro, suoli, roccie, materie prime minerali, ceramica e molto altro.
In questo processo, il materiale campione viene posto con un flusso (tetraborato di litio), fuso in atmosfera ossidante, spento come una tavoletta di vetro omogenea e analizzato come tale con alta precisione.
Analisi di screening su 71 elementi
Analisi di screening su 71 ossidi/elementi. Sensibilità 250 µg/g
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Avvertenza:
Per effettuare un'analisi standardizzata, abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105 °C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI).
La rettificazione, l'essiccazione e la determinazione della perdita di bagliore vengono eseguite, se necessario o non specificate, alle condizioni specificate nel prezzo di listino
►XRF.
Il Fundamental Parameter Program Omnian è utilizzato per XRF indipendente dalla matrice, quantitativa, semi-quantitativa o qualitativa di campioni sconosciuti di diverse proprietà del materiale e composizioni (inorganiche e organiche). Il materiale campione può essere preparato in forma preparata o con una composizione adeguata (radiografia e sottovuoto!) e la texture superficiale possono essere analizzate non preparate e non distruttive, per cui si possono determinare le concentrazioni di elementi tra il limite di rilevazione, solitamente 250 µg/g e 100%.
