XRF, X-ray fluorescentie analyse van vliegas, REA-pleisters, gieterij verkoudheid, verontreinigde bodems en andere residuen en afvalstoffen
Onze diensten
- Bepaling van de hoofd- en sporenelementen in rest- en afvalmaterialen zoals vliegas, REA-pleisters, gieterijverkoudheden, beladen bodems volgens ISO 29581, DIN EN ISO 12677, DIN EN 15309, DIN EN 196-2, DIN 51001, DIN 51719, DIN 51729
- Screening analyse op maximaal 71 elementen
- ► X-ray microanalyse, EDX van insluitsels, onzuiverheden
Meer informatie over röntgenfluorescentieanalyse van:
Normen en richtlijnen voor röntgenfluorescentieanalyse van rest- en afvalmaterialen
- ISO 29581-2:2010-03 - Cement - Testmethoden - Deel 2: Chemische analyse met behulp van de röntgenfluorescentietestmethode
- DIN EN ISO 12677:2013-02 - Chemische analyse van vuurvaste producten door röntgenfluorescentieanalyse (XRF) - Smeltproces
- DIN EN 196-2:2013-10 - Testmethoden voor cement - Deel 2: Chemische analyse van cement
- DIN EN 15309:2007-08 - Karakterisering van afval en bodem - Bepaling van elementaire samenstelling door röntgenfluorescentieanalyse
- DIN EN 62321-3-1:2014-10 - Methode voor de bepaling van bepaalde stoffen in elektrotechnische producten - Deel 3-1: Screening - Lood, kwik, cadmium, totaal chroom en totaal broom door middel van röntgenfluorescentiespectrometrie (IEC 62321-3- 1:2013)
- DIN 51001:2003-08 - Testen van oxidische grondstoffen en materialen - Algemene werkingsprincipes voor röntgenfluorescentieanalyse (XRF)
- DIN 51001 Supplement 1:2010-05 - Testen van oxidische grondstoffen en materialen - Algemene werkingsprincipes voor X-ray fluorescentie analyse (XRF) - Overzicht van stofgroepen gebaseerde verteringsmethoden voor de productie van monsters voor de XRF
- DIN 51081:2002-12 - Testen van oxidische grondstoffen en materialen - Bepaling van massaveranderingen tijdens het gloeien
- DIN 51418-1:2008-08 - X-ray spectrale analyse - X-ray emissie en X-ray fluorescentie analyse (XRF) - Deel 1: Algemene voorwaarden en basisbeginselen
- DIN 51418-2:2015-03 - X-ray spectrale analyse - X-ray emissie en X-ray fluorescentie analyse (XRF) - Deel 2: Termen en basisprincipes voor meting, kalibratie en evaluatie
- DIN 51719:1997-07 - Testen van vaste brandstoffen - Bepaling van het asgehalte
- DIN 51729-10:2011-04 - Test van vaste brandstoffen - Bepaling van de chemische samenstelling van brandstofas - Deel 10: X-ray fluorescentieanalyse (XRF)
Soorten onderzoek voor de analyse van rest- en afvalmaterialen
- Meetprogramma's van verschillende grootte voor röntgenfluorescentieanalyse van anorganische bindmiddelen uit een smeltvertering of poederpersen
- Screening analyse op maximaal 71 elementen
- aanvullende onderzoeken
- Bepaling van bulkdichtheid en porositeit
- Analyse van koolstof - TC, TOC, TIC
- X-ray microanalyse, EDX voor de identificatie van insluitsels, onzuiverheden
Herziening van XRF, X-ray fluorescentie analyse
- Geaccrediteerde testprocedures volgens nationale en internationale normen
- kosteneffectieve analyse
- Korte werkstukken in het laboratorium
- hoge precisie van analyses, locatiedetectiegrenzen
- tot 71 items in één meetpas
Kwantitatieve röntgenfluorescentieanalyse van een smeltvertering
Standaardprogramma voor 12 elementen oxiden, van toepassing op alle groepen stoffen met uitzondering van materialen met een hoog ZR-gehalte.
Bij het oversteken van de elementen gemarkeerd in groen, hun
- kalibratiebereik (bereik) en
- de praktische detectiegrens (NWG)
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Let op:
Om een gestandaardiseerde analyse uit te voeren, hebben we analysefijne (< 63 µm) en gedroogd (105 °C) monstermateriaal nodig, evenals de waarde van het gloeiverlies (LOI).
De bepaling van het slijpen, drogen en gloeiverlies wordt, indien nodig of niet gespecificeerd, uitgevoerd volgens de eisen van de
► Prijslijst XRF
algemene voorwaarden.
Standaardprogramma voor 20 elementen oxiden, van toepassing op alle groepen stoffen met uitzondering van materialen met een hoog ZR-gehalte.
Bij het oversteken van de elementen gemarkeerd in groen, hun
- kalibratiebereik (bereik) en
- de praktische detectiegrens (NWG)
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Let op:
Om een gestandaardiseerde analyse uit te voeren, hebben we analysefijne (< 63 µm) en gedroogd (105 °C) monstermateriaal nodig, evenals de waarde van het gloeiverlies (LOI).
De bepaling van het slijpen, drogen en gloeiverlies wordt, indien nodig of niet gespecificeerd, uitgevoerd volgens de eisen van de
► Prijslijst XRF
algemene voorwaarden.
Standaard programma op 30 oxideën/elementen, van toepassing op alle groepen van stoffen met uitzondering van hoge Zr, Cr, MN bevattende materialen.
Bij het oversteken van de elementen gemarkeerd in groen, hun
- kalibratiebereik (bereik) en
- de praktische detectiegrens (NWG)
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Let op:
Voor het uitvoeren van een gestandaardiseerde analyse hebben we analytisch fijn (< 63 µm) en gedroogd (105 °C) monstermateriaal nodig, evenals de waarde van het gloeiverlies (LOI).
De bepaling van het slijpen, drogen en gloeiverlies wordt, indien nodig of niet gespecificeerd, uitgevoerd volgens de eisen van de
► Prijslijst XRF
algemene voorwaarden.
Standaardprogramma op 40 oxideën/elementen, van toepassing op alle groepen stoffen met uitzondering van hoge Zr, Cr, MN bevattende materialen.
Bij het oversteken van de elementen gemarkeerd in groen, hun
- kalibratiebereik (bereik) en
- de praktische detectiegrens (NWG)
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Let op:
Voor het uitvoeren van een gestandaardiseerde analyse hebben we analytisch fijn (< 63 µm) en gedroogd (105 °C) monstermateriaal nodig, evenals de waarde van het gloeiverlies (LOI).
De bepaling van het slijpen, drogen en gloeiverlies wordt, indien nodig of niet gespecificeerd, uitgevoerd volgens de eisen van de
► Prijslijst XRF
algemene voorwaarden.
Kwantitatieve XRF van één orodispergeerbare tablet op 12, 16, 20, 30 of 40 elementen volgens DIN EN ISO 12677 (2012), DIN EN 15309 (2007), DIN EN 19.
Voor de analyse van geoxideerde en geoxideerde monsters van verschillende samenstellingen zoals glas- en glasvezels, bodems, rotsen, minerale grondstoffen, keramische of mineraal gebonden bouwmaterialen, enz.
Bij dit proces wordt het monstermateriaal met een flux (lithiumtetraboraat) geplaatst, gesmolten in een oxiderende atmosfeer, geblust als een homogene glastablet en als zodanig met grote precisie geanalyseerd.
Kwantitatieve röntgenfluorescentieanalyse van een poederpers
Standaardprogramma op 27 oxideën/elementen, van toepassing op alle groepen stoffen met uitzondering van hoge Zr, Cr, MN bevattende materialen
Bij het oversteken van de elementen gemarkeerd in groen, hun
- kalibratiebereik (bereik) en
- de praktische detectiegrens (NWG)
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Let op:
Om een gestandaardiseerde analyse uit te voeren, hebben we analysefijne (< 63 µm) en gedroogd (105 °C) monstermateriaal nodig, evenals de waarde van het gloeiverlies (LOI).
De bepaling van het slijpen, drogen en gloeiverlies wordt, indien nodig of niet gespecificeerd, uitgevoerd volgens de eisen van de
►Prijslijst XRF
algemene voorwaarden.
Standaardprogramma op 40 oxideën/elementen, van toepassing op alle groepen stoffen met uitzondering van hoge Zr, Cr, MN bevattende materialen
Bij het oversteken van de elementen gemarkeerd in groen, hun
- kalibratiebereik (bereik) en
- de praktische detectiegrens (NWG)
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Let op:
Om een gestandaardiseerde analyse uit te voeren, hebben we analysefijne (< 63 µm) en gedroogd (105 °C) monstermateriaal nodig, evenals de waarde van het gloeiverlies (LOI).
De bepaling van het slijpen, drogen en gloeiverlies wordt, indien nodig of niet gespecificeerd, uitgevoerd volgens de eisen van de
► Prijslijst XRF
algemene voorwaarden.
Standaardprogramma op 50 oxideën/elementen, van toepassing op alle groepen stoffen met uitzondering van hoge Zr, Cr, MN bevattende materialen.
Bij het oversteken van de elementen gemarkeerd in groen, hun
- kalibratiebereik (bereik) en
- de praktische detectiegrens (NWG)
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Let op:
Om een gestandaardiseerde analyse uit te voeren, hebben we analysefijne (< 63 µm) en gedroogd (105 °C) monstermateriaal nodig, evenals de waarde van het gloeiverlies (LOI).
De bepaling van het slijpen, drogen en gloeiverlies wordt, indien nodig of niet gespecificeerd, uitgevoerd volgens de eisen van de
► Prijslijst XRF
algemene voorwaarden.
Speciaal voor milieurelevante monsters zoals verontreinigde of onverontreinigde bodems, zuiveringsslib, afvalverbrandingsresten, maar ook REA-gips, vliegas en andere materialen. Vanwege de aard van het preparaat kunnen textuur- en korrelgrootteeffecten leiden tot een misvatting van de kleine hoofdelementen met ordinale getallen tot 15. Voor de beoordeling van grondstoffen moeten ten minste de elementen van Na tot Si worden geanalyseerd naast een smeltvertering.
Het 27 Element-programma is met name geschikt voor vraagstukken die elementen vereisen volgens Laga, de Kloke-lijst, de verordening inzake afvalzuiveringsslib of de EG-richtlijnen. Een groot aantal andere elementen is echter bekend uit milieutoxicologie, die niet zijn opgenomen in de lijsten van grenswaarden, indicatieve en oriëntatiewaarden. In geval van verdenking van een dergelijke verontreiniging of bij het creëren van landkadasters, wordt het gebruik van uitgebreidere meetprogramma's met 40 of 50 elementen aanbevolen.
Voor deze vragen wordt een zachte behandeling van het materiaal uitgevoerd: het monster wordt gedroogd bij 40 °C in de circulerende lucht droogkamer, zodat er geen verdampingsverliezen ontstaan, bijvoorbeeld door vluchtige metallische of metaal-organische kwikverbindingen en – indien dit nog niet voor de levering is gedaan – in een Grind de agaat molen.
Screening analyse op 71 elementen
Screening analyse op 71 oxideën/elementen. Gevoeligheid 250 µg/g
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Let op:
Om een gestandaardiseerde analyse uit te voeren, hebben we analysefijne (< 63 µm) en gedroogd (105 °C) monstermateriaal nodig, evenals de waarde van het gloeiverlies (LOI).
De bepaling van het slijpen, drogen en gloeiverlies wordt, indien nodig of niet gespecificeerd, uitgevoerd volgens de eisen van de
►Prijslijst XRF
algemene voorwaarden.
Het Fundamentele Parameter Program Omnian wordt gebruikt voor matrix-onafhankelijke, kwantitatieve, semi-kwantitatieve of kwalitatieve XRF van onbekende monsters van verschillende materiaaleigenschappen en samenstellingen (anorganisch en organisch). Het monstermateriaal kan in voorbereide vorm of met een geschikte samenstelling worden bereid (röntgen- en vacuümbestendig!) en oppervlaktetextuur kunnen onvoorbereid en niet-destructief worden geanalyseerd, waarbij elementconcentraties tussen de detectielimiet, gewoonlijk 250 µg/g en 100% kunnen worden bepaald.
