XRF, X-ray fluorescentie analyse van grof en fijn keramiek, technisch keramiek en hun grondstoffen
Niet-vuurvaste keramische producten op basis van minerale silicaat of metalen basis
Grof keramiek
- Bouwkeramiek – bakstenen, klinker, gevormde bakstenen, dakpannen
- Aardewerk zoals aardewerk, aardewerk
- Grof steengoed – klinker, tegels, troggen, rioolbuizen
Fijne keramiek
- Porselein – servies, sanitair, mozaïeken, tegels, siervaten
- Hard en zacht porselein
Technisch keramiek
- Hoge temperatuur speciale keramiek, elektrotechnische keramiek
Meer informatie over röntgenfluorescentieanalyse van:
Grof keramiek
Fijn keramiek
Geluid
Kaolien
Talk
Wollastoniet
Veldspaat
Kwarts
KleurpigmentNormen en richtlijnen voor röntgenfluorescentieanalyse grof en fijn keramiek, technisch keramiek en hun grondstoffen
- DIN EN ISO 12677:2013-02 - Chemische analyse van vuurvaste producten door röntgenfluorescentieanalyse (XRF) - Smeltproces
- DIN EN ISO 26845:2008-06 - Chemische analyse van vuurvaste producten - Algemene eisen voor natte chemische analyse, atomaire absorptiespectrometrie (AAS) methoden, atomaire emissiespectrometrie geëxciteerd door een inductief gekoppeld plasma (ICP-AES)
- DIN 51001:2003-08 - Testen van oxidische grondstoffen en materialen - Algemene werkingsprincipes voor röntgenfluorescentieanalyse (XRF)
- DIN 51001 Supplement 1:2010-05 - Testen van oxidische grondstoffen en materialen - Algemene werkingsprincipes voor X-ray fluorescentie analyse (XRF) - Overzicht van stofgroepen gebaseerde verteringsmethoden voor de productie van monsters voor de XRF
- DIN 51081:2002-12 - Testen van oxidische grondstoffen en materialen - Bepaling van massaveranderingen tijdens het gloeien
- DIN 51418-1:2008-08 - X-ray spectrale analyse - X-ray emissie en X-ray fluorescentie analyse (XRF) - Deel 1: Algemene voorwaarden en basisbeginselen
- DIN 51418-2:2015-03 - X-ray spectrale analyse - X-ray emissie en X-ray fluorescentie analyse (XRF) - Deel 2: Termen en basisprincipes voor meting, kalibratie en evaluatie
Soorten onderzoek voor de analyse van grof en fijn keramiek, technisch keramiek en hun grondstoffen
- Meetprogramma's voor röntgenfluorescentieanalyse van grof en fijn keramiek uit een smeltvertering of poederpersen
- Screeninganalyse voor maximaal 71 elementen uit één poederpellet
- aanvullende onderzoeken
- Bepaling van de bulkdichtheid en poreusheid
- Analyse van koolstof – TC, TOC, TIC
- Röntgenmicro-analyse, EDX voor de identificatie van insluitsels, onzuiverheden, enz.
Herziening van XRF, X-ray fluorescentie analyse
- Geaccrediteerde testprocedures volgens nationale en internationale normen
- kosteneffectieve analyse
- Korte werkstukken in het laboratorium
- hoge precisie van analyses, locatiedetectiegrenzen
- tot 71 items in één meetpas
Kwantitatieve röntgenfluorescentieanalyse van een smeltvertering
Standaardprogramma voor 12 elementen oxiden, van toepassing op alle groepen stoffen met uitzondering van materialen met een hoog ZR-gehalte
Bij het oversteken van de elementen gemarkeerd in groen, hun
- kalibratiebereik (bereik) en
- de praktische detectiegrens (NWG)
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Let op:
Om een gestandaardiseerde analyse uit te voeren, hebben we analytische fijne (< 63 µm) en gedroogd (105 °C) monstermateriaal nodig, evenals de waarde van het gloeiverlies (LOI).
De bepaling van het slijpen, drogen en gloeiverlies wordt, indien nodig of niet gespecificeerd, uitgevoerd volgens de eisen van de
► Prijslijst XRF
algemene voorwaarden.
Standaardprogramma voor 16 elementen oxiden voor ZR-bevattende materialen van 4% ZrO2
Bij het oversteken van de elementen gemarkeerd in groen, hun
- kalibratiebereik (bereik) en
- de praktische detectiegrens (NWG)
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Let op:
Voor het uitvoeren van een gestandaardiseerde analyse hebben we analytisch fijn (< 63 µm) en gedroogd (105 °C) monstermateriaal nodig, evenals de waarde van het gloeiverlies (LOI).
De bepaling van het slijpen, drogen en gloeiverlies wordt, indien nodig of niet gespecificeerd, uitgevoerd volgens de eisen van de
► Prijslijst XRF
algemene voorwaarden.
Standaardprogramma voor 20 elementen oxiden, van toepassing op alle groepen stoffen met uitzondering van materialen met een hoog ZR-gehalte.
Bij het oversteken van de elementen gemarkeerd in groen, hun
- kalibratiebereik (bereik) en
- de praktische detectiegrens (NWG)
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Let op:
Voor het uitvoeren van een gestandaardiseerde analyse hebben we analytisch fijn (< 63 µm) en gedroogd (105 °C) monstermateriaal nodig, evenals de waarde van het gloeiverlies (LOI).
De bepaling van het slijpen, drogen en gloeiverlies wordt, indien nodig of niet gespecificeerd, uitgevoerd volgens de eisen van de
► Prijslijst XRF
algemene voorwaarden.
Standaardprogramma op 30 oxideën/elementen, van toepassing op alle groepen stoffen met uitzondering van hoge Zr, Cr, MN bevattende materialen.
Bij het oversteken van de elementen gemarkeerd in groen, hun
- kalibratiebereik (bereik) en
- de praktische detectiegrens (NWG)
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Let op:
Voor het uitvoeren van een gestandaardiseerde analyse hebben we analytisch fijn (< 63 µm) en gedroogd (105 °C) monstermateriaal nodig, evenals de waarde van het gloeiverlies (LOI).
De bepaling van het slijpen, drogen en gloeiverlies wordt, indien nodig of niet gespecificeerd, uitgevoerd volgens de eisen van de
► Prijslijst XRF
algemene voorwaarden.
Standaardprogramma op 40 oxideën/elementen, van toepassing op alle groepen stoffen met uitzondering van hoge Zr, Cr, MN bevattende materialen
Bij het oversteken van de elementen gemarkeerd in groen, hun
- kalibratiebereik (bereik) en
- de praktische detectiegrens (NWG)
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Let op:
Voor het uitvoeren van een gestandaardiseerde analyse hebben we analytisch fijn (< 63 µm) en gedroogd (105 °C) monstermateriaal nodig, evenals de waarde van het gloeiverlies (LOI).
De bepaling van het slijpen, drogen en gloeiverlies wordt, indien nodig of niet gespecificeerd, uitgevoerd volgens de eisen van de
► Prijslijst XRF
algemene voorwaarden.
Kwantitatieve XRF van één orodispergeerbare tablet op 12, 16, 20, 30 of 40 elementen volgens DIN EN ISO 12677 (2012), DIN EN 15309 (2007), DIN EN 19.
Voor de analyse van geoxideerde en geoxideerde monsters van verschillende samenstellingen zoals glas- en glasvezels, bodems, rotsen, minerale grondstoffen, keramische of mineraal gebonden bouwmaterialen, enz.
Bij dit proces wordt het monstermateriaal met een flux (lithiumtetraboraat) geplaatst, gesmolten in een oxiderende atmosfeer, geblust als een homogene glastablet en als zodanig met grote precisie geanalyseerd.
Kwantitatieve röntgenfluorescentieanalyse van een poederpers
Standaardprogramma op 27 oxideën/elementen, van toepassing op alle groepen stoffen met uitzondering van hoge Zr, Cr, MN bevattende materialen
Bij het oversteken van de elementen gemarkeerd in groen, hun
- kalibratiebereik (bereik) en
- de praktische detectiegrens (NWG)
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Let op:
Om een gestandaardiseerde analyse uit te voeren, hebben we analysefijne (< 63 µm) en gedroogd (105 °C) monstermateriaal nodig, evenals de waarde van het gloeiverlies (LOI).
De bepaling van het slijpen, drogen en gloeiverlies wordt, indien nodig of niet gespecificeerd, uitgevoerd volgens de eisen van de
►Prijslijst XRF
algemene voorwaarden.
Standaardprogramma op 40 oxideën/elementen, van toepassing op alle groepen stoffen met uitzondering van hoge Zr, Cr, MN bevattende materialen
Bij het oversteken van de elementen gemarkeerd in groen, hun
- kalibratiebereik (bereik) en
- de praktische detectiegrens (NWG)
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Let op:
Om een gestandaardiseerde analyse uit te voeren, hebben we analysefijne (< 63 µm) en gedroogd (105 °C) monstermateriaal nodig, evenals de waarde van het gloeiverlies (LOI).
De bepaling van het slijpen, drogen en gloeiverlies wordt, indien nodig of niet gespecificeerd, uitgevoerd volgens de eisen van de
► Prijslijst XRF
algemene voorwaarden.
Standaardprogramma op 50 oxideën/elementen, van toepassing op alle groepen stoffen met uitzondering van hoge Zr, Cr, MN bevattende materialen.
Bij het oversteken van de elementen gemarkeerd in groen, hun
- kalibratiebereik (bereik) en
- de praktische detectiegrens (NWG)
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Let op:
Om een gestandaardiseerde analyse uit te voeren, hebben we analysefijne (< 63 µm) en gedroogd (105 °C) monstermateriaal nodig, evenals de waarde van het gloeiverlies (LOI).
De bepaling van het slijpen, drogen en gloeiverlies wordt, indien nodig of niet gespecificeerd, uitgevoerd volgens de eisen van de
► Prijslijst XRF
algemene voorwaarden.
Speciaal voor milieurelevante monsters zoals verontreinigde of onverontreinigde bodems, zuiveringsslib, afvalverbrandingsresten, maar ook REA-gips, vliegas en andere materialen. Vanwege de aard van het preparaat kunnen textuur- en korrelgrootteeffecten leiden tot een misvatting van de kleine hoofdelementen met ordinale getallen tot 15. Voor de beoordeling van grondstoffen moeten ten minste de elementen van Na tot Si worden geanalyseerd naast een smeltvertering.
Het 27 Element-programma is met name geschikt voor vraagstukken die elementen vereisen volgens Laga, de Kloke-lijst, de verordening inzake afvalzuiveringsslib of de EG-richtlijnen. Een groot aantal andere elementen is echter bekend uit milieutoxicologie, die niet zijn opgenomen in de lijsten van grenswaarden, indicatieve en oriëntatiewaarden. In geval van verdenking van een dergelijke verontreiniging of bij het creëren van landkadasters, wordt het gebruik van uitgebreidere meetprogramma's met 40 of 50 elementen aanbevolen.
Voor deze vragen wordt een zachte behandeling van het materiaal uitgevoerd: het monster wordt gedroogd bij 40 °C in de circulerende lucht droogkamer, zodat er geen verdampingsverliezen ontstaan, bijvoorbeeld door vluchtige metallische of metaal-organische kwikverbindingen en – indien dit nog niet voor de levering is gedaan – in een Grind de agaat molen.
Screening analyse op 71 elementen
Screening analyse op 71 oxideën/elementen. Gevoeligheid 250 µg/g
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Let op:
Om een gestandaardiseerde analyse uit te voeren, hebben we analysefijne (< 63 µm) en gedroogd (105 °C) monstermateriaal nodig, evenals de waarde van het gloeiverlies (LOI).
De bepaling van het slijpen, drogen en gloeiverlies wordt, indien nodig of niet gespecificeerd, uitgevoerd volgens de eisen van de
►Prijslijst XRF
algemene voorwaarden.
Het Fundamentele Parameter Program Omnian wordt gebruikt voor matrix-onafhankelijke, kwantitatieve, semi-kwantitatieve of kwalitatieve XRF van onbekende monsters van verschillende materiaaleigenschappen en samenstellingen (anorganisch en organisch). Het monstermateriaal kan in voorbereide vorm of met een geschikte samenstelling worden bereid (röntgen- en vacuümbestendig!) en oppervlaktetextuur kunnen onvoorbereid en niet-destructief worden geanalyseerd, waarbij elementconcentraties tussen de detectielimiet, gewoonlijk 250 µg/g en 100% kunnen worden bepaald.
