XRF, X-ray fluorescentie analyse van kunststoffen
Onze diensten voor u:
- Screeningsanalyse van anorganische componenten zoals vulstoffen, vlamvertragers op maximaal 71 elementen volgens DIN 51418
- Bepaling van HBCD in piepschuim (polystyreen)
- Bepaling van het chloorgehalte in verpakkingsmaterialen voor levensmiddelen
- X-ray microanalyse, EDX van insluitsels, onzuiverheden
Meer informatie over röntgenfluorescentieanalyse van:
HBCD in styreen
Chloor in voedselverpakkingNormen en richtlijnen voor röntgenfluorescentieanalyse van kunststoffen, rubber, rubber, verpakkingsmaterialen
- DIN EN 62321-3-1:2014-10 – Methode voor de bepaling van bepaalde stoffen in elektrotechnische producten - Deel 3-1: Screening - Lood, kwik, cadmium, totaal chroom en totaal broom door middel van röntgenfluorescentiespectrometrie (IEC 62321-3- 1:2013)
- DIN 51418-1:2008-08 – X-ray spectrale analyse - X-ray emissie en X-ray fluorescentie analyse (XRF) - Deel 1: Algemene voorwaarden en basisbeginselen
- DIN 51418-2:2015-03 – X-ray spectrale analyse - X-ray emissie en X-ray fluorescentie analyse (XRF) - Deel 2: Termen en basisprincipes voor meting, kalibratie en evaluatie
Soorten onderzoek voor de analyse van kunststoffen, rubber, rubber, verpakkingsmateriaal
- X-ray fluorescentie analyse van een poederpers of niet-destructief op het oorspronkelijke materiaal
- Screening analyse op maximaal 71 elementen
Herziening van XRF, X-ray fluorescentie analyse
- Geaccrediteerde testprocedures volgens nationale en internationale normen
- kosteneffectieve analyse
- Korte werkstukken in het laboratorium
- hoge precisie van analyses, locatiedetectiegrenzen
- tot 71 items in één meetpas
Kwantitatieve röntgenfluorescentieanalyse van een poederpers
Standaardprogramma op 27 oxideën/elementen, van toepassing op alle groepen stoffen met uitzondering van hoge Zr, Cr, MN bevattende materialen
Bij het oversteken van de elementen gemarkeerd in groen, hun
- kalibratiebereik (bereik) en
- de praktische detectiegrens (NWG)
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Let op:
Om een gestandaardiseerde analyse uit te voeren, hebben we analysefijne (< 63 µm) en gedroogd (105 °C) monstermateriaal nodig, evenals de waarde van het gloeiverlies (LOI).
De bepaling van het slijpen, drogen en gloeiverlies wordt, indien nodig of niet gespecificeerd, uitgevoerd volgens de eisen van de
►Prijslijst XRF
algemene voorwaarden.
Standaardprogramma op 40 oxideën/elementen, van toepassing op alle groepen stoffen met uitzondering van hoge Zr, Cr, MN bevattende materialen
Bij het oversteken van de elementen gemarkeerd in groen, hun
- kalibratiebereik (bereik) en
- de praktische detectiegrens (NWG)
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Let op:
Om een gestandaardiseerde analyse uit te voeren, hebben we analysefijne (< 63 µm) en gedroogd (105 °C) monstermateriaal nodig, evenals de waarde van het gloeiverlies (LOI).
De bepaling van het slijpen, drogen en gloeiverlies wordt, indien nodig of niet gespecificeerd, uitgevoerd volgens de eisen van de
► Prijslijst XRF
algemene voorwaarden.
Standaardprogramma op 50 oxideën/elementen, van toepassing op alle groepen stoffen met uitzondering van hoge Zr, Cr, MN bevattende materialen.
Bij het oversteken van de elementen gemarkeerd in groen, hun
- kalibratiebereik (bereik) en
- de praktische detectiegrens (NWG)
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Let op:
Om een gestandaardiseerde analyse uit te voeren, hebben we analysefijne (< 63 µm) en gedroogd (105 °C) monstermateriaal nodig, evenals de waarde van het gloeiverlies (LOI).
De bepaling van het slijpen, drogen en gloeiverlies wordt, indien nodig of niet gespecificeerd, uitgevoerd volgens de eisen van de
► Prijslijst XRF
algemene voorwaarden.
Speciaal voor milieurelevante monsters zoals verontreinigde of onverontreinigde bodems, zuiveringsslib, afvalverbrandingsresten, maar ook REA-gips, vliegas en andere materialen. Vanwege de aard van het preparaat kunnen textuur- en korrelgrootteeffecten leiden tot een misvatting van de kleine hoofdelementen met ordinale getallen tot 15. Voor de beoordeling van grondstoffen moeten ten minste de elementen van Na tot Si worden geanalyseerd naast een smeltvertering.
Het 27 Element-programma is met name geschikt voor vraagstukken die elementen vereisen volgens Laga, de Kloke-lijst, de verordening inzake afvalzuiveringsslib of de EG-richtlijnen. Een groot aantal andere elementen is echter bekend uit milieutoxicologie, die niet zijn opgenomen in de lijsten van grenswaarden, indicatieve en oriëntatiewaarden. In geval van verdenking van een dergelijke verontreiniging of bij het creëren van landkadasters, wordt het gebruik van uitgebreidere meetprogramma's met 40 of 50 elementen aanbevolen.
Voor deze vragen wordt een zachte behandeling van het materiaal uitgevoerd: het monster wordt gedroogd bij 40 °C in de circulerende lucht droogkamer, zodat er geen verdampingsverliezen ontstaan, bijvoorbeeld door vluchtige metallische of metaal-organische kwikverbindingen en – indien dit nog niet voor de levering is gedaan – in een Grind de agaat molen.
Screening analyse op 71 elementen
Screening analyse op 71 oxideën/elementen. Gevoeligheid 250 µg/g
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Let op:
Om een gestandaardiseerde analyse uit te voeren, hebben we analysefijne (< 63 µm) en gedroogd (105 °C) monstermateriaal nodig, evenals de waarde van het gloeiverlies (LOI).
De bepaling van het slijpen, drogen en gloeiverlies wordt, indien nodig of niet gespecificeerd, uitgevoerd volgens de eisen van de
►Prijslijst XRF
algemene voorwaarden.
Het Fundamentele Parameter Program Omnian wordt gebruikt voor matrix-onafhankelijke, kwantitatieve, semi-kwantitatieve of kwalitatieve XRF van onbekende monsters van verschillende materiaaleigenschappen en samenstellingen (anorganisch en organisch). Het monstermateriaal kan in voorbereide vorm of met een geschikte samenstelling worden bereid (röntgen- en vacuümbestendig!) en oppervlaktetextuur kunnen onvoorbereid en niet-destructief worden geanalyseerd, waarbij elementconcentraties tussen de detectielimiet, gewoonlijk 250 µg/g en 100% kunnen worden bepaald.
